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Ltefdd自動測試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:10807216閱讀:849來源:國知局
Lte fdd自動測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型LTE FDD自動測試系統(tǒng)包括有頻譜儀、綜測儀、信號源、射頻切換控制箱、工控計算機和被測件,頻譜儀、綜測儀、信號源和射頻切換控制箱集成在機柜上,頻譜儀、綜測儀和信號源通過GPIB控制線串聯(lián),射頻切換控制箱通過USB控制線與工控計算機相連,頻譜儀、綜測儀和信號源與工控計算機通過GPIB轉(zhuǎn)USB控制線相連,頻譜儀、綜測儀和信號源輸入端口通過射頻線纜與射頻切換控制箱后面板對應(yīng)端口相連。本實用新型可以實現(xiàn)對測試進行操作和交互,控制儀表設(shè)置參數(shù),讀取儀表數(shù)據(jù),分析對比顯示數(shù)據(jù),存儲結(jié)果,生成報告等。對指定的設(shè)備環(huán)境,實現(xiàn)智能化檢測待測件,設(shè)計優(yōu)化檢測算法,并行檢測,提高效率。
【專利說明】
LTE FDD自動測試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實用新型涉及一種LTE FDD自動測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前現(xiàn)有的LTEFDD移動終端測試子系統(tǒng)客戶進行檢測需要手動在儀表按鍵上對儀表的參數(shù)進行逐一設(shè)置,需要進行大量的循環(huán)操作,讀取記錄結(jié)果,和標準參數(shù)比對,逐一記錄合格與否。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種LTEFDD自動測試系統(tǒng)。
[0004]為了解決現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本實用新型采用的技術(shù)方案是:
[0005]LTE FDD自動測試系統(tǒng),包括有:頻譜儀、綜測儀、信號源、射頻切換控制箱、工控計算機和被測件,頻譜儀、綜測儀、信號源和射頻切換控制箱集成在機柜上,頻譜儀、綜測儀和信號源通過GPIB控制線串聯(lián),射頻切換控制箱通過USB控制線與工控計算機相連,頻譜儀、綜測儀和信號源與工控計算機通過GPIB轉(zhuǎn)USB控制線相連,頻譜儀、綜測儀和信號源輸入端口通過射頻線纜與射頻切換控制箱后面板對應(yīng)端口相連。
[0006]所述的頻譜分析儀為N9030A信號分析儀。
[0007]所述的綜合測試儀為CTP3110。
[0008]所述的信號發(fā)生器為N5182B。
[0009]所述的射頻切換控制箱包括有射頻切換控制箱TH2900F-1和射頻切換控制箱TH2900F-2 兩部分。
[0010]所述的射頻切換控制箱TH2900F-1與射頻切換控制箱TH2900F-2通過射頻線纜相連。
[0011]所述的射頻切換控制箱包括有3dB衰減器、功分器、耦合器、Bandl帶阻濾波器、Band3帶阻濾波器、Band7帶阻濾波器、低通濾波器、高通濾波器、電磁開關(guān)、單向器、UE終端I與UE終端2,其中:所述的3dB衰減器對輸入信號幅度進行衰減,確保輸入信號電平不會超出儀表量程,對儀表起到保護作用;
[0012]所述的功分器將輸入信號分離成兩路,一路與綜測儀相連,一路經(jīng)過濾波單元與頻譜儀相連;
[0013]所述的耦合器將輸入信號與干擾信號產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物并將其輸入到頻譜分析儀進行測試;
[0014]所述的Bandl帶阻濾波器對Bandl主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試;
[0015]所述的Band3帶阻濾波器對Band3主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試;
[0016]所述的Band7帶阻濾波器對Band7主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試;
[0017]所述的低通濾波器對9kHZ-1000MHZ進行濾波,濾波后進入頻譜分析儀進行雜散測試;
[0018]所述的高通濾波器對3000MHz -12750MHz進行濾波,濾波后進入頻譜分析儀進行雜散測試;
[0019]所述的UE終端I與UE終端2為被測件提供射頻輸入信號。
[0020]LTE FDD自動測試系統(tǒng)的測試方法,包括以下步驟:
[0021]①創(chuàng)建測試項目;
[0022]②填寫公共信息和加載校準結(jié)果文件;
[0023]③創(chuàng)建和導入、導出測試計劃;
[0024]④修改和配置參數(shù);
[0025]⑤初始化儀表;
[0026]⑥連接被測設(shè)備;
[0027]⑦執(zhí)行測試;
[0028]⑧測試完成后點擊“測試結(jié)果”來查詢完成的測試數(shù)據(jù)和對其中測試項的復測工作;
[0029]⑨測試結(jié)束;
[°03°]⑩生成報告。
[0031 ]本實用新型所具有的優(yōu)點與效果是:
[0032]本實用新型LTE FDD移動終端測試子系統(tǒng)可以實現(xiàn)自動對測試進行操作和交互,包括基礎(chǔ)信息記錄,儀表矯正,誤差補償,控制儀表設(shè)置參數(shù),讀取儀表數(shù)據(jù),分析對比顯示數(shù)據(jù),存儲結(jié)果,生成報告等。對指定的設(shè)備環(huán)境,實現(xiàn)智能化檢測待測件,設(shè)計優(yōu)化檢測算法,并彳丁檢測,提尚效率。
【附圖說明】
[0033]圖1為本實用新型LTEFDD自動測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)原理圖;
[0034]圖2為本實用新型射頻切換控制箱TH2900F-1結(jié)構(gòu)原理圖;
[0035]圖3為本實用新型射頻切換控制箱TH2900F-2結(jié)構(gòu)原理圖;
[0036]圖4為本實用新型LTEFDD自動測試系統(tǒng)的測試方法流程圖。
【具體實施方式】
[0037]如圖1所示,本實用新型LTEFDD自動測試系統(tǒng),包括有:頻譜儀、綜測儀、信號源、射頻切換控制箱、工控計算機和被測件,頻譜儀、綜測儀、信號源和射頻切換控制箱集成在機柜上,頻譜儀、綜測儀和信號源通過GPIB控制線串聯(lián),射頻切換控制箱通過USB控制線與工控計算機相連,頻譜儀、綜測儀和信號源與工控計算機通過GPIB轉(zhuǎn)USB控制線相連,頻譜儀、綜測儀和信號源輸入端口通過射頻線纜與射頻切換控制箱后面板對應(yīng)端口相連。
[0038]頻譜分析儀主要功能為完成發(fā)射互調(diào)測試項目中的對互調(diào)產(chǎn)物進行測試,并讀出測試結(jié)果;完成傳導雜散發(fā)射項目測試,按照標準要求的頻段逐段掃描。
[0039]信號發(fā)生器主要功能為發(fā)射互調(diào)測試項目提供干擾信號,與被測件發(fā)射信號產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物。
[0040]綜合測試儀主要功能為完成型號核準測試要求的17項測試項目的測試,包括最大發(fā)射功率、最大功率回退(MPR)、配置UE發(fā)射功率、最小輸出功率、發(fā)射關(guān)功率、通用發(fā)射開/關(guān)時間模板、絕對功率控制容限、相對功率控制容限、總功率控制容限、頻率誤差、誤差矢量幅度(EVM)、載波泄漏、帶內(nèi)雜散(未分配資源塊)、EVM均衡器頻譜平坦度、占用帶寬、頻譜發(fā)射模板、鄰道泄漏抑制比(ACLR);
[0041 ]射頻切換單元將各儀表的射頻輸入端口連接到射頻切換單元與之對應(yīng)的輸出端口,為被測件的輸入信號提供射頻路徑切換,確保將被測件的射頻信號輸入到不同儀表,通過工控機發(fā)送控制命令切換內(nèi)部電磁開關(guān)實現(xiàn)不同路徑切換。
[0042]所述的頻譜分析儀為N9030A信號分析儀。
[0043]所述的綜合測試儀為CTP3110。
[0044]所述的信號發(fā)生器為N5182B。
[0045]如圖2、3所示,所述的射頻切換控制箱包括有射頻切換控制箱TH2900F-1和射頻切換控制箱TH2900F-2兩部分。
[0046]所述的射頻切換控制箱TH2900F-1與射頻切換控制箱TH2900F-2通過射頻線纜相連。
[0047]所述的射頻切換控制箱包括有3dB衰減器、功分器、耦合器、Bandl帶阻濾波器、Band3帶阻濾波器、Band7帶阻濾波器、低通濾波器、高通濾波器、電磁開關(guān)、單向器、UE終端I與UE終端2,其中:所述的3dB衰減器對輸入信號幅度進行衰減,確保輸入信號電平不會超出儀表量程,對儀表起到保護作用。
[0048]所述的功分器將輸入信號分離成兩路,一路與綜測儀相連,一路經(jīng)過濾波單元與頻譜儀相連,其作用為通過對綜測儀的操作來改變輸入信號的頻率、信號特性,滿足發(fā)射互調(diào)與傳導雜散的測試。
[0049]所述的耦合器將輸入信號與干擾信號產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物并將其輸入到頻譜分析儀進行測試。
[0050]所述的Bandl帶阻濾波器對BandU 1920MHz-1980MHz)主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試,其主要作用為提高頻譜分析儀的動態(tài)范圍,提高傳導雜散測試的準確性。
[0051 ] 所述的Band3帶阻濾波器對Band3( 1710MHz-1785MHz)主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試,其主要作用為提高頻譜分析儀的動態(tài)范圍,提高傳導雜散測試的準確性。;
[0052]所述的Band7帶阻濾波器對Band7(2500MHz-2570MHz)主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試,其主要作用為提高頻譜分析儀的動態(tài)范圍,提高傳導雜散測試的準確性。;
[0053]所述的低通濾波器對9kHz-1000MHz進行濾波,濾波后進入頻譜分析儀進行雜散測試,其主要作用為確保9kHz-1000MHz范圍內(nèi)的頻譜純度,提高傳導雜散測試的準確性。;
[0054]所述的高通濾波器對3000MHz _12750MHz進行濾波,濾波后進入頻譜分析儀進行雜散測試,其主要作用為確保3000MHz -12750MHz范圍內(nèi)的頻譜純度,提高傳導雜散測試的準確性。;
[0055]所述的電磁開關(guān)(圖2中的SI,S2,S3):通過工控機的控制實現(xiàn)不同路徑切換。
[0056]所述的單向器實現(xiàn)單向通路,其主要作用為防止輸入信號通過耦合端進入信號源前端,起保護信號源前端作用。
[0057]所述的UE終端I與UE終端2為被測件提供射頻輸入信號。
[0058]如圖4所示,本實用新型LTE FDD自動測試系統(tǒng)的測試方法,包括以下步驟:
[0059]啟動檢測軟件:在合法用戶(系統(tǒng)管理員和操作員)進行正確登錄后,進入LTEFDD數(shù)字終端自動檢測系統(tǒng)測試軟。創(chuàng)建測試項目:填寫公共信息和加載校準結(jié)果文件。創(chuàng)建和導入、導出測試計劃:創(chuàng)建好項目信息后,可以通過點擊左側(cè)欄的“測試計劃信息”來實現(xiàn)對當前測試項目使用測試計劃的設(shè)置。創(chuàng)建測試計劃:點擊新建計劃按鈕,在彈出測試計劃菜單內(nèi)勾選當前計劃包含測試項目后點擊保存,完成新建測試計劃。導入與導出測試計劃:新建或修改后的測試計劃點擊“導出計劃”在指定路徑保存為測試計劃文件,后續(xù)新的測試項目需要相同的測試計劃時可以點擊“導入計劃”按鈕直接調(diào)用之前導出的測試計劃。修改和配置參數(shù)(測試信道、帶寬、RB數(shù)量、調(diào)制方式)新建與導入的測試計劃,都可通過雙擊測試計劃中顯示的測試項來配置當前計劃中該測試項相應(yīng)的測試參數(shù)。執(zhí)行測試規(guī)劃:點擊“開始”按鈕。選擇測試樣機和測試計劃。等待注冊。開始進行測試。
[0060]測試過程:開始測試后會按照至上而下的順序逐項完成當前測試計劃中勾選的測試項;軟件“測試輸出信息”界面中下部為測試結(jié)果顯示,會實時逐項輸出當前正在測試項目的數(shù)據(jù)結(jié)果。
[0061]測試過程當中可以通過上部按鈕“暫?!睖y試或者“停止”測試,暫停的測試可以繼續(xù)完成,終止的測試則不能馬上繼續(xù),只有通過重新確認測試計劃后重新開始測試來完成剩余的測試;
[0062]測試當中會有一些需要測試人員手動操作配合的提示,如“儀表連接失敗,請先確認儀表是否連接成功!”等;
[0063]測試完畢后會彈出提示對話框,儀表、控制箱均切換到初始狀態(tài),測試信號鏈路中斷。
[0064]結(jié)果查詢與復測:測試完成后可以點擊如下圖中左側(cè)信息欄中“測試結(jié)果”,來查詢完成的測試數(shù)據(jù)和對其中測試項的復測工作
[0065]結(jié)果查詢:對于測試結(jié)果的查看可以按照如圖中顯示的“樣機”,“計劃”,“測試項”等不同篩選項來進行
[0066]結(jié)果復測:測試完成后,對于未通過或有疑問的測試項可通過勾選相應(yīng)的配置項來選擇需要結(jié)果復測的測試項,點擊“啟動復測”開始測試。
[0067]生成報告文檔:測試完成后點擊生成報告按鈕,加載報告模板與原始記錄報告模板,點擊確定,自動將測試數(shù)據(jù)插入到報告模板中,完成測試數(shù)據(jù)的導出。
【主權(quán)項】
1.LTE FDD自動測試系統(tǒng),其特征在于包括有:頻譜儀、綜測儀、信號源、射頻切換控制箱、工控計算機和被測件,頻譜儀、綜測儀、信號源和射頻切換控制箱集成在機柜上,頻譜儀、綜測儀和信號源通過GPIB控制線串聯(lián),射頻切換控制箱通過USB控制線與工控計算機相連,頻譜儀、綜測儀和信號源與工控計算機通過GPIB轉(zhuǎn)USB控制線相連,頻譜儀、綜測儀和信號源輸入端口通過射頻線纜與射頻切換控制箱后面板對應(yīng)端口相連。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動測試系統(tǒng),其特征在于所述的頻譜分析儀為N9030A信號分析儀。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動測試系統(tǒng),其特征在于所述的綜測儀為CTP3110。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動測試系統(tǒng),其特征在于所述的信號發(fā)生器為N5182B。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動測試系統(tǒng),其特征在于所述的射頻切換控制箱包括有射頻切換控制箱TH2900F-1和射頻切換控制箱TH2900F-2兩部分。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的LTEFDD自動測試系統(tǒng),其特征在于所述的射頻切換控制箱TH2900F-1與射頻切換控制箱TH2900F-2通過射頻線纜相連。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動測試系統(tǒng),其特征在于所述的射頻切換控制箱包括有3dB衰減器、功分器、耦合器、Bandl帶阻濾波器、Band3帶阻濾波器、Band7帶阻濾波器、低通濾波器、高通濾波器、電磁開關(guān)、單向器、UE終端I與UE終端2,其中:所述的3dB衰減器對輸入信號幅度進行衰減,確保輸入信號電平不會超出儀表量程,對儀表起到保護作用; 所述的功分器將輸入信號分離成兩路,一路與綜測儀相連,一路經(jīng)過濾波單元與頻譜儀相連; 所述的耦合器將輸入信號與干擾信號產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物并將其輸入到頻譜分析儀進行測試; 所述的Bandl帶阻濾波器對Bandl主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試; 所述的Band3帶阻濾波器對Band3主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試; 所述的Band7帶阻濾波器對Band7主峰信號進行大幅度衰減后進入頻譜分析儀進行雜散測試; 所述的低通濾波器對9kHZ-1000MHZ進行濾波,濾波后進入頻譜分析儀進行雜散測試; 所述的高通濾波器對3000MHz -12750MHz進行濾波,濾波后進入頻譜分析儀進行雜散測試; 所述的UE終端I與UE終端2為被測件提供射頻輸入信號。
【文檔編號】H04W24/02GK205490613SQ201620253816
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年3月30日
【發(fā)明人】林兆楠, 丁寶軍, 孔凡江, 姜涵什, 薛俊婷, 劉志爽, 劉連穎
【申請人】遼寧信鼎檢測認證有限公司
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